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北京恒奧德儀器WLP-202A粒度測定儀 作步驟原理

粒度測定儀的工作原理主要基于激光散射原理和多角度散射技術(shù)，?通過測量顆粒在不同角度上散射的光強來確定顆粒的大小和分布。?具體步驟和原理如下：?

樣品制備：?首先，?將待測物料制備成適當(dāng)尺寸的顆粒，?這通常通過物理或化學(xué)方法實現(xiàn)。?

激發(fā)光源：?使用激光光源照射樣品，?激光束會在顆粒表面散射。?

散射光信號采集：?儀器收集顆粒表面散射的光信號，?并將其轉(zhuǎn)化為電信號。?

光信號處理：?對采集到的光信號進行處理，?通過測量散射角度、?散射強度等參數(shù)來分析顆粒尺寸。?

數(shù)據(jù)分析：?根據(jù)測量到的光信號，?計算出顆粒的尺寸分布，?并給出相應(yīng)的統(tǒng)計數(shù)據(jù)，?如平均粒徑、?標準偏差等。?

激光粒度分析儀的工作原理還可以細分為以下幾個步驟：?

激光散射：?儀器發(fā)射激光束，?并使其經(jīng)過樣品。?當(dāng)激光束與樣品中的顆粒相互作用時，?激光光束會在不同方向上被散射。?

多角度散射：?通過設(shè)置多個收集光探測頭在不同角度上收集散射光，?以得到從不同方向上散射的光強。?

光散射模型解析：?根據(jù)多角度散射的光強數(shù)據(jù)，?計算出顆粒的大小和分布情況，?并繪制顆粒大小分布曲線。?

粒度分析儀的精度和準確性在很大程度上取決于光源的穩(wěn)定性、?測量儀器的靈敏度、?數(shù)據(jù)處理的算法等因素。?此外，?粒度測定儀還采用了會聚光傅立葉變換光路和無約束自由擬合是數(shù)據(jù)處理軟件，?可檢測顆粒大小及分布，?覆蓋了毫米、?微米、?亞微米及納米多個波段12。?